日期:2024-05-10 08:06
样品的实验分析，研究人员对比分析了不同连接工艺对电驱动系统性能的影响：
（1）在磁通密度介于0.6 T至1.5 T之间时，除了8个铆扣的铁心样品外，其他铁心样品均出现了磁化能力的显著恶化。8个铆扣样品则是在整个磁通密度范围内都表现出高度恶化，这是由于该连接方案下具有较高的残余应力造成的。
（2）由于闭合的涡流路径（短路）没有显著增加，因此观察到的铁心连接工艺对涡流损耗的影响很小或者几乎没有影响。由于残余应力对磁滞损耗的影响（磁滞损耗是主要损耗）较大，因此点焊相较于线焊和铆接工艺，其磁滞损耗更低，因此在低速和中